Espectrometro de fluorescencia de rayos X (XRF)
Epsilon 4
Malvern Panalytical
El espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión de energía para el análisis elemental varía desde el carbono (C) hasta el americio (Am), concentración varía desde ppm hasta 100 wt%. Detector de deriva de silicio (SDD), generalmente de 135 eV a Mn-Kα. Cambiador de muestras extraíble de 10 posiciones.
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